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Strumento di misura dello spessore del rivestimento della fluorescenza a raggi X Hitachi FT110A
Strumento di misura dello spessore del rivestimento della fluorescenza a raggi X Hitachi FT110A
Dettagli del prodotto


sintesi

Il prodotto FT110A di ottava generazione dello strumento di misura dello spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X, che ha ottenuto vendite impressionanti dal 1978, ha nuove ottimizzazioni in termini di precisione di misura, prestazioni operative e software.

Attraverso la funzione di posizionamento automatico, posizionare semplicemente il campione sulla fase del campione e può automaticamente allineare e osservare la messa a fuoco del campione entro pochi secondi, eliminando l'operazione di messa a fuoco manuale precedente e migliorando notevolmente l'effetto di misurazione.

Specialità:

1.Funzione di messa a fuoco automatica e funzione di avvicinamento automatico
Quando si posizionano campioni di varie altezze sulla fase del campione, finché la differenza di altezza è entro 80mm, il campione testato può essere messo a fuoco automaticamente entro 3 secondi. Ciò migliora ulteriormente la comodità delle operazioni di posizionamento.

autofocusComoda messa a fuoco della fotocamera

Funzione di avvicinamento automaticoLa posizione di messa a fuoco più adatta

2.Miglioramento della precisione di misura attraverso il nuovo metodo FP a film sottile

L'elevata sensibilità dei piccoli fasci di luce è stata raggiunta e l'accuratezza della misurazione dello spessore del film è stata migliorata attraverso l'uso di piccoli collimatori. Il tempo di misurazione del rivestimento è stato ridotto della metà rispetto al nostro modello originale. Inoltre, è stato sviluppato un nuovo metodo EP basato sulle caratteristiche del rivelatore, che può eseguire misurazioni libere standard. I risultati delle misurazioni possono generare un report con un solo clic, il che è semplice e conveniente.

Nuovo metodo EP film

Riduzione della complessità delle linee di ispezione e semplificazione della definizione delle condizioni di misura

Il metodo di misura non standard può misurare fino a 5 strati di spessore del film

Funzione di messa a fuoco automatica e funzione di correzione della distanza

I campioni con differenze convesse concave possono essere misurati utilizzando le stesse condizioni di misura di quelle realizzate con il metodo EP a film sottile

Miglioramento della sensibilità

Il tempo di misurazione del rivestimento è stato dimezzato rispetto al nostro modello originale

Genera funzione report

Generazione di un rapporto di misurazione con un clic

3. Osservazione del campione di ampia area

Dopo aver preso un'immagine statica del campione posto sulla piattaforma di misura (250mm * 200mm), una posizione di osservazione stretta può essere specificata sull'immagine di osservazione ampia ottenuta. Di conseguenza, il tempo di selezione per la maggior parte delle posizioni dei punti di misura può essere significativamente ridotto, così come il tempo di selezione per posizioni specifiche difficili da trovare sull'immagine.

Osservazione dell'immagine in ampia area

Facile posizionamento

Nome del modello: FT-110A


Elementi di misura: Numeri atomici 22 (Ti)~83 (Bi)

Rilevatore: contatore proporzionale

Tubo a raggi X: Tensione del tubo: 50kV Corrente del tubo: 1mA

Collimatori: 4 tipi (Φ 0.05mm, Φ 0.1mm, Φ 0.2mm, Φ 0.025 × 0.4mm)

Osservazione del campione: CCD camera (capace di osservazione di ampia area)

X-Ray Station: Computer, monitor LCD 19 pollici

Software di misura dello spessore del film: metodo EP del film sottile, metodo della curva standard

Funzione di misura: misurazione automatica, ricerca centrale

Funzioni qualitative: marcatura KL, rappresentazione comparativa

Alimentazione elettrica: 220V/7.5A

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